
В ЮФУ пройдёт Международная школа для молодых учёных по синхротронному и нейтронному излучению IWSN 2021
16.11.2021
С 6 по 7 декабря в Южном федеральном университете пройдёт Международная школа для аспирантов и молодых учёных IWSN 2021.
Подробнее16.11.2021
С 6 по 7 декабря в Южном федеральном университете пройдёт Международная школа для аспирантов и молодых учёных IWSN 2021.
Подробнее11.11.2021
Исследователи МИИ интеллектуальных материалов одержали победу с проектом «Weld AI Analyst»!
Подробнее09.11.2021
C 15 по 17 декабря Школа молодых инноваторов "Юный Эйнштейн" приглашает обучающихся первых курсов ВУЗов и СУНЦ ЮФО, а также учеников 10-11 классов школ юга России к участию в проекте
Подробнее02.06.2021
25.05.2021 г. были подведены итоги конкурсного отбора на получение стипендии в области рентгеновской спектроскопии им. М.А. Блохина
Подробнее30.04.2021
Международный исследовательский институт интеллектуальных материалов приглашает к участию в конкурсе на получение стипендии, финансируемой из средств Фонда целевого капитала ЮФУ «Стипендия в области рентгеновской спектроскопии имени М.А. Блохина»
Подробнее27.04.2021
В МИИ ИМ объявлен конкурс на замещение должностей профессорско-преподавательского состава
Подробнее26.04.2021
Андрей Терещенко, аспирант 3-го года обучения Международного исследовательского института интеллектуальных материалов ЮФУ, был отмечен компании специальной премией компании Топсе
Подробнее17.02.2021
18 февраля 2021 года в 12:00 мск на площадке zoom пройдет организованный совместно с Институтом катализа им. Г.К. Борескова Сибирского отделения РАН онлайн-семинар «Синхротронное излучение для исследований наноразмерной структуры материалов».
16.11.2020
23 ноября в МИИ ИМ ЮФУ пройдет презентация магистерской программы «Nanoscale Structure of Materials»
Подробнее29.10.2020
С 26 по 30 октября 2020 года на базе Международного исследовательского института интеллектуальных материала в формате видеоконференцсвязи проходит Школа для молодых ученых «Практические аспекты использования методов машинного обучения для анализа спектральных данных»
Подробнее